半導體可靠性測試方案旨在評估器件在特定條件下的性能和壽命，確保其在實際應用中的可靠性。以下是常見的測試方案：

1.   環境應力測試  

   高溫工作壽命測試（HTOL）  ：在高溫下長時間運行，評估器件在高溫環境中的可靠性。（推薦海銀裝備高低溫濕熱試驗箱的高溫功能）

   溫度循環測試（TCT）  ：通過高低溫循環，檢測器件因熱膨脹和收縮導致的失效。（推薦海銀裝備高低溫濕熱試驗箱的高低溫循環功能）

   熱沖擊測試（TST）  ：快速溫度變化，評估器件對極端溫度變化的耐受性。（推薦海銀裝備高快速溫變試驗箱的高溫功能）

   濕熱測試（THB）  ：在高溫高濕條件下測試，評估器件在潮濕環境中的可靠性。（推薦海銀裝備高低溫濕熱試驗箱的濕熱功能）

2.   電應力測試  

   靜電放電測試（ESD）  ：評估器件對靜電放電的耐受能力。

   電遷移測試（EM）  ：在高電流密度下測試，評估金屬互連的電遷移現象。

   柵極氧化層完整性測試（GOI）  ：評估柵極氧化層的可靠性。

3.   機械應力測試  

   機械沖擊測試  ：模擬運輸或使用中的機械沖擊，評估器件的機械強度。（推薦海銀裝備電磁式振動臺的功能）

   振動測試  ：模擬振動環境，檢測器件在振動條件下的可靠性。（推薦海銀裝備電磁式振動臺的功能）

   彎曲測試  ：評估柔性器件在彎曲條件下的性能。

4.   壽命預測測試  

   加速壽命測試（ALT）  ：通過加速應力條件，預測器件在正常使用條件下的壽命。

   失效分析（FA）  ：分析失效器件，找出失效原因并改進設計。

5.   封裝可靠性測試  

   焊點可靠性測試  ：評估焊點在熱循環或機械應力下的可靠性。（推薦海銀裝備電磁式振動臺的功能）

   封裝氣密性測試  ：檢測封裝的氣密性，防止濕氣或污染物進入。

   引線鍵合強度測試  ：評估引線鍵合的機械強度。

6.   輻射可靠性測試  

   總劑量輻射測試（TID）  ：評估器件在輻射環境中的可靠性。

   單粒子效應測試（SEE）  ：評估器件對單粒子效應的敏感性。

7.   功能測試  

   參數測試  ：測試器件的電氣參數是否符合規格。

   功能驗證  ：驗證器件在正常工作條件下的功能是否正常。

8.   數據分析與報告  

   數據收集與分析  ：收集測試數據，進行統計分析，評估可靠性。

   測試報告  ：編寫詳細報告，包括測試條件、結果、失效分析和改進建議。

9.   標準與規范  

   JEDEC標準  ：如JESD22系列，提供可靠性測試的標準方法。

   AEC-Q100  ：汽車電子器件的可靠性測試標準。

   MIL-STD-883  ：軍用器件的可靠性測試標準。

10.   持續改進  

   反饋與改進  ：根據測試結果，優化設計和制造工藝，提升可靠性。

通過這些測試方案，可以全面評估半導體器件的可靠性，確保其在各種應用中的穩定性和長壽命。